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Article n° LEI356121
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Micromètre à plaque plane GPM3
2006 - 2008
Augmente la précision des niveaux d'ingénieur Leica NA2 ou NAK2
Le micromètre à plaque plane peut être fixé au-dessus de l'objectif de la lunette. Le NA2 ou le NAK2 devient ainsi le parfait niveau de précision pour les mesures de déformation ou les mesures industrielles.
Garantie / Mois : 24
Caractéristiques générales
- En tant que prolongement du niveau pour le nivellement de précision et
Mesures de contrôle.
- Lecture pratique grâce à la graduation en verre lumineux.
- Utilisation facile grâce à la fixation à l'extrémité de l'oculaire.
Vidéo
Caractéristiques techniques
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Écart-type pour un double nivellement de 1 km
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0,3 mm
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Lecture pratique grâce à la graduation en verre lumineux.
En tant que prolongement du niveau pour le nivellement de précision et
Mesures de contrôle.